產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

XRF熒光光譜分析儀非常堅(jiān)固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求高的應(yīng)用。可以用來(lái)對(duì)各種不同類(lèi)型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無(wú)輻射性同位素，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類(lèi)型研究，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。XRF熒光光譜分析儀可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測(cè)定，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

1、檢測(cè)元素：標(biāo)準(zhǔn)配置可檢測(cè)30多種元素，同時(shí)可按客戶需求增加檢測(cè)元素

2、專(zhuān)業(yè)性：礦石專(zhuān)用版分析軟件，采用智能一鍵測(cè)試

3、個(gè)性化定制工作模式：多種礦樣模式選擇和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。

4、充分挖掘礦山價(jià)值：高清攝像頭，可對(duì)被檢測(cè)的礦脈或礦點(diǎn)部位進(jìn)行更直觀的觀察，并對(duì)開(kāi)采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制，隨時(shí)檢測(cè)礦石品位。

5、對(duì)選礦過(guò)程中原礦、精礦和尾礦等進(jìn)行精確快速分析，為礦石品位的測(cè)定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判定依據(jù)。

6、環(huán)境監(jiān)控：對(duì)開(kāi)采礦山周?chē)寥乐械闹亟饘龠M(jìn)行監(jiān)測(cè)和檢測(cè)，評(píng)估礦山環(huán)境的修復(fù)情況，最大限度的監(jiān)測(cè)好礦山周邊的環(huán)境。

技術(shù)參數(shù)：

1、檢測(cè)元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探測(cè)器：美國(guó)Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國(guó)Amptek Si-pin（25 mm2）、德國(guó)KETEK SDD探測(cè)器 ；

3、激發(fā)源：大功率微型直板X(qián)射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流最大可達(dá)100μA；

4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計(jì)數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計(jì)。每次測(cè)試前，不需要外部標(biāo)樣，自動(dòng)能量校準(zhǔn)核查；

5、濾光片：配置8個(gè)濾光片，可根據(jù)測(cè)試元素自動(dòng)切換；

6、測(cè)試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法修正；

7、點(diǎn)觸或扣動(dòng)扳機(jī)控制測(cè)試開(kāi)始，測(cè)試過(guò)程無(wú)需長(zhǎng)扣扳機(jī)。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機(jī)測(cè)試樣品。